薄膜厚度测定仪 ef-ii
更新时间:2014-09-30 15:43:57
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类型:镀层测厚仪
品牌:上海西光
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薄膜厚度测定仪 ef-ii 一、用途 ef-ii薄膜厚度测定仪又称(涂层测厚仪、测厚仪),主要用于测定金属薄膜涂层的厚度,ef-ii测厚仪采用非接触式两次对焦的光学测量法,附以Zui先进的电子对焦系统,使得测量的重复误差在 1-3μm 之间,利用 ccd 加监视器观察图像,比人眼观察更客观。该仪器使用方便、操作简单、测量误差小、精度高,ef-ii测厚仪广泛应用于电子工业、塑料、橡胶、机械等行业。 二.规格 1.物镜:20x、40x 2.总放大倍数:600x、200x ( 480线ccd ) 3.工作距离:95mm 4.工作台:30 × 70mm 5、Zui大测量厚度: 2mm 6、重复测量误差:1-3μm 三.仪器的成套性 1.主机:一台 2.ccd摄像头一个 3.ccd适配镜一个 4.移动工作台一个 5.内置电子对焦系统一套 6.数字式千分表一个 7.监视器一台
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本产品的加工定制是是,类型是镀层测厚仪,品牌是上海西光,型号是EF-II,测量范围是0--2(mm),显示方式是数显,电源电压是5(V)
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